Вестник Российского нового университета

Серия: Серия «Сложные системы: модели, анализ и управление»Выпуск 2022 №4Страница 158–164Содержание

Логическая модель деградации микропроцессора под воздействием излучения

Logic model for radiation degradation of microprocessor

Авторы: Д.И. Приходько
Авторы: D.I. Prikhodko
Журнал: Вестник Российского нового университета
Выпуск: 2022, №4
Страницы: 158-164

Полный текст

Просмотров: 23 | Скачиваний: 0
← Вернуться к выпуску