Вестник Российского нового университета

Серия: Серия «Сложные системы: модели, анализ и управление» — Выпуск 2022 №4 — Страница 158–164 — Содержание

Логическая модель деградации микропроцессора под воздействием излучения

Logic model for radiation degradation of microprocessor

Авторы: Д.И. Приходько
Авторы: D.I. Prikhodko
Журнал: Вестник Российского нового университета
Выпуск: 2022, №4
Страницы: 158-164

Полный текст

Просмотров: 231 | Скачиваний: 0
← Вернуться к выпуску