Логическая модель деградации микропроцессора под воздействием излучения

Год/Year: 
2022
Серия/Series: 
Сложные системы модели, анализ и управление / Complex systems: models, analysis, management
Выпуск/Issue: 
4
Начальная страница/First page: 
158
Название: 
Логическая модель деградации микропроцессора под воздействием излучения
Title: 
Logic model for radiation degradation of microprocessor
Полная версия/Full version: